专利名称：基于结构光图像匹配的零件表面缺陷检测方法及系
统
专利类型：发明专利
发明人：史小平,张宇探,姚小婷,赵奕铭,徐欣奕申请号：CN202010394500.3申请日：20200511公开号：CN111650205A公开日：20200911
摘要：本申请涉及基于结构光图像匹配的零件表面缺陷检测方法及系统，包括：获取待检测零件表面的结构光图像；将待检测零件表面的结构光图像与预设的基准零件表面的结构光图像模板集中的各结构光图像模板一一比对，选取最相似的结构光图像模板；将待检测零件表面的结构光图像的像素点与最相似的结构光图像模板相应的像素点进行像素值做差，得到像素差值图像；分割出像素差值图像中包括有疑似缺陷区域的部分，处理得到二值图像；求二值图像中各疑似缺陷区域的圆度；对比圆度与预设值，若小于预设值，则为划痕缺陷，否则，为点状缺陷。本申请解决了相关技术中图像采集过程中极易受到环境的干扰导致图像质量较差，最终导致零件检测结果鲁棒性较差的问题。
申请人：东风汽车集团有限公司
地址：430056 湖北省武汉市武汉经济技术开发区东风大道特1号
国籍：CN
代理机构：武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：邱云雷
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