专利名称：光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量方法及
装置
专利类型：发明专利
发明人：范继来,韩鹏,李晓光,邱健,王耀祖,彭力,骆开庆申请号：CN201510642161.5申请日：20150930公开号：CN105203831A公开日：20151230
摘要：本发明涉及一种光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量方法及装置，步骤为：注射泵匀速注射带测样品进入样品池，样品池中产生匀速的样品流移动；通过Zeta电位测仪的光学结构，利用激光多普勒效应测试出微量泵注射时颗粒的移动速度v1；在样品池中施加固定强度、极性已知的电场；通过仪器的光学结构，利用激光多普勒效应测试出微量泵注射和电场同时作用下颗粒的移动速度v2；通过比较v1和v2的大小判断颗粒带的是正电荷还是负电荷。本发明方法用精密的步进电机带动注射的微量注射泵，流量可控，流量范围可以满足粒子的电泳速度分辨要求，简化了电位极性的测量，降低成本，提高了工作效率。
申请人：丹东百特仪器有限公司
地址：118009 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号
国籍：CN
代理机构：沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：李晓光
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