GB T 18311-4

ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１前言本部分为ＧＢ／Ｔ　　　　　１８３１１的第４部分，并隶属于ＧＢ／Ｔ　１８３０９．　１－２００１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第１部分：总则和导则》本部分等同采用Ｉ　　　　ＥＣ　６１３００－３－４：２００１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第３－４部分：检查和测量衰减》（英文版）。为便于使用，　　　　对于ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１还作了下列编辑性修改：　　　　ＥＣ　ａ）删除Ｉ６１３００－３－４：２００１的前言；ｂ）　　　　　　ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１中５．　５．　３中列项５所引用的５．５．３．　２不存在，本部分改为引用列项２，　　　　《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测址程序》是系列国家标准，下面列出了这些国家标准的预计结构及其对应的ＩＥＣ标准：ａ）　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３０９．　１－２００１《纤维光学互连器件和无源ｔ９件基本试验和测量程序第１部分：总则和导则》　　　　　　　　（ｉｄｔ　ＩＥＣ　６１３００－１：１９９５），ｂ）　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１０《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第２部分：试验》第２－１部第２－２部　　　　　　　　—　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１０．　１－２００２《纤维光学互连器件和无源器件分：　　　　　　　　　　　　试验振动（正弦）））（ＩＥＣ　６１３００－２－１：１９９５，ＩＤＴ）—　　　　　　　　　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１０．　２－２００１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序基本试验和测量程序　　　　　　　　　　　　分：试验配接耐久性》（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－２－２：１９９５）—　　　　　　　　　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１０．　３－２００１《纤维光学互连器件和无ｖｌ４器件基本试验和测量程序第２－３部分：　　　　　　　　　　　　试验静态剪切力》（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－２－３：１９９５）　　　　　　　　—　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１０．　４－２００１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第２－４部分：　　　　　　　　　　　　试验光纤／光缆保持力》（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－２－４：１９．９５）ｃ）　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第３部分：检查和测量》基本试验和测量程序基本试验和测量程序第３－１部第３－２部—　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．　１－２００３《纤维光学互连器件和无源器件—　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．　２－２００１《纤维光学互连器件和无源器件分：　　　　　　　　检查和测量外观检查））（ＩＥＣ　６１３００－３－１：１９９５，ＩＤＴ）分：　　　　　　　　检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性）））（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－３－２：１９９５）　　　　—　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．　３－２００１《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第３－３部分：　　　　　　　　检查和测量监测衰减和回波损耗变化（多路））（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－３－３：１９９７）—　　　　　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．　４－２００３《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第３－４部分：　　　　　　　　检查和测量衰减》（ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１，ＩＤＴ）本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所（ＣＥＳＩ）归口。本部分起草单位：上海传输线研究所。本部分起草人：程万茂、汤钧、樊鹤峰、马磊、怀向芳、王锐臻。ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序　　　　第３－４部分：检查和测量衰减范围本部分规定了测量光学器件衰减的各种方法。本部分不适用于密集波分复用（ＤＷＤＭ）器件。２规范性引用文件下列文件中的条款通过ＧＢ／Ｔ　　　　　１８３１１的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３０９．１－２００１纤维光学互连器件和无源器件导则（ｉｄｔＩＥＣ　６１３００－１：１９９５）　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．１－２００３纤维光学互连器件和无源器件和测量外观检查（ＩＥＣ　６１３００－３－１：１９９５，ＩＤＴ）ＩＥＣ　　　　　６０７９３－１（所有部分）光纤３概述基本试验和测量程序基本试验和测量程序第１部分：总则和第３－１部分：检查第１部分：总规范衰减是用于表示由于被试器件（ＤＵＴ）接人到一段光缆后导致的有用功率的减少，以ｄＢ表示。术　　　　语插人损耗有时用来替代衰减。ＤＵＴ可能不止有两个光学端口。但是，衰减只能跨接两个端口测量，所以本部分中的ＤＵＴ都认　　　　为具有两个端口。共有七种不同结构的ＤＵＴ，这些结构之间的差异主要在于光学端口的尾端。尾端可以由光纤、连接器插头或插座构成。测量衰减的基准方法为光功率计法。替代方法是光时域反射仪法（ＯＴＤＲ）测量作为。采用功率计　　　　进行衰减测量有三种组合形式。各ＤＵＴ结构的衰减测量的基准方法和替代方法见表５，注１：不同的测试配置和方法会导致所测的衰减具有不同的准确度。若有争议，　　　　应使用基准方法注２：在多模测量中，由光纤扰动引起的测量系统的模式分布变化会影响衰减的测量　　　　３．１注意事项应满足以下测量要求　　　　３．１．１注人光纤中的光功率应不足以产生非线性散射效应３．１．２测量Ｐ。和Ｐ，时，光纤的位置应固定不变，以避免由于弯曲损耗引起衰减变化。４装置４．１注入条件和光源（Ｓ）　　　　除非另有规定，注人条件按ＧＢ／Ｔ　１８３０９．　１－２００１附录Ｂ的规定。光源包括光辐射源、相关驱动电子系统和尾纤（如存在）。优先采用的光源和注人条件见表　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１表１优先采用的光源和注入条件代号类型中心波长／ｎｍ谱宽／ｎｍ２３℃时稳定性／ｄＢ／ｈ士０．０５士０．０５士０．０５注人条件　　　　输出功率（ＧＢ／Ｔ　１８３０９．　１光源类型－２００１附录Ｂ）ａＳ１Ｓ２Ｓ３多模多模多模单模６６０士３０８５０土３０１　３１０士３０妻５０＞５０＞５０（１０Ｂ．２．１．２形式２发光二极管（ＬＥＤ）单色仪或ＬＥＤ单色仪或ＬＥＤ激光二极管、单色仪或ＬＥＤ　　　　　　ａＢ．２．１．２形式２Ｂ．２．１．２形式２Ｂ．　２．　２Ｓ４１　３１０士３０士０．０５Ｓ５单模１　５５０士３０落１０士０．０５ａＢ．　２．　２激光二极管、单色仪或ＬＥＤ　　　　　　注１：由于相干长度很长，激光光源会在多模光纤纤芯中形成不稳定的散斑图案，这将致使对多模器件实现形式２的注人条件产生困难或不可能。因此，　　　　　　测量多模器件时，应使用ＬＥＤ或其他非相干光源，包含有０丁ＤＲ　　　　　　光源的激光器应避免使用注２：对于Ｓ４和Ｓ５，使用ＬＥＤ光源时，谱宽的典型值应不大于１５０　ｎｍ．注３：一般认为，新型器件可能需要用到其他类型光源，诸如可调激光器等。因此，建议在这些情况下优先采用的光源特性应根据被测器件作出规定。　　　　　　光源输出功率应大于等于最小可测功率电平２０　　　ｄＢａ４．２光功率计（Ｄ）光功率计包括光检测器、连接机构和相关电子系统。与光检测器的连接可以用光纤适配器或合适　　　　结构的插头连接器。在测Ｐ。和Ｐ，所需的时间周期内，　　　　测量系统应稳定在规定范围内。当测量Ｐ。和Ｐ，必须断开与检测器的连接时，测量重复性应在。．　０５　ｄＢ以内。可以使用具有较大光敏面的光检测器来满足这个要求。　　　　光检测器的准确度应与测量要求相适应。光功率计的动态范围应足以测量ＤＵＴ在测量波长上输出的功率电平。优先采用的光功率计参数如表２所示。　　　　表２优先采用的功率计参数　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　编号类型线性度／ｄＢ（士０．　　　　　　　２５精度（士５％Ｄ１多模（一５　ｄＢ．到一６０　ｄＢｍ）（士０．２５　　　　　　Ｄ２单模（一５　ｄＢ－到一６０　ｄＢ－）《士５％注１：为确保光功率计检测到光纤中所有输出光，其光敏面以及光纤与光敏面相对位置应与光纤的数值孔径相　　　　适应。　　　　　　　　　　注２：光功率计的线性度应以工作波长下一”ｄＢｍ功率电平为基准。　　　　注３：光功率计应进行校准，以保证在工作波长下一２３　　　　　ｄＢｍ功率电平时的响应度偏差不大于士５％注４：在整个测量期间和工作温度范围内，　　　　光功率计的稳定性应优于。．０５　ｄＢｏ４．３临时接点（Ｔｉ）这是指将两根光纤端面临时对准形成稳定、可重复性和低损耗接点的一种方法、器件或机械装置。　　　　当用标准连接器不能将ＤＵＴ直接接人测量系统时，使用Ｔ］。例如，它可以是精密Ｖ型槽、真空吸盘、微调装置、熔接或机械式接头。在测量Ｐ。和Ｐ，所需的整个时间内，ＴＪ应保证测量准确度（ｄＢ）稳定在ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１士１０％以内。可使用合适的折射率匹配材料来提高ＴＪ的稳定性。４．４光纤光源到Ｔｉ之间的光纤以及测试跳线和替换跳线中的光纤都应与ＤＵＴ中的光纤具有相同的几何　　　　和光学特性。注光纤应符合Ｉ　　　　ＥＣ　６０７９３－１中Ａ类多模光纤和ｓ类单模光纤的规定。４．５基准插头（ＲＰ）测量衰减的测试方法中需要使用ＲＰ形成完整的连接器组合时，　　　　ＲＰ即成为ＤＵＴ的有效部分。ＲＰ应在相关规范中规定。４．６墓准转接器（Ａｒ）若衰减的测试方法中需要使用Ａｒ形成完整的连接器组合时，Ａｒ即成为ＤＵＴ的有效部分。Ａ：应　　　　在相关规范中规定。４．７滤模器（ｍｆ）ｍｆ的作用是去除不希望有的瞬态高次模，从而消除测量不准确度。　　　　多模光纤ｍｆ由光纤在光滑的芯轴上紧密卷绕５圈构成，此芯轴直径大小的选取要确保衰减瞬态　　　　高次模，从而达到稳态条件。芯轴直径可因被测光纤而异，取决于被测光纤和其涂覆层类型。以下是典型芯轴直径：　　　　表３芯轴直径尺寸　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　光纤尺寸／，．ｍ５０芯轴直径／ｍｍ１８６２．５２０１００２５注：如果用的是成缆光纤，芯轴直径相应减去光缆半径对于测量单模光纤，ｍｆ应包括至少２ｍ长的光纤，且此段光纤上应绕两个直径为５０　　　　　ｍｍ的圆圈。　　　　ｍｆ应处于Ｔｉ和ＤＵＴ之间，但在测试方法规定时也可放在光检测器之前测Ｐ；时，重要的是如图１和图３所示在ＤＵＴ和光检测器之间加上ｍｆ而不增大所测ＤＵＴ的　　　　衰减。验证ｍｆ是否会影响测量的方法如下：在测尸。时，不要从光检测器上取出光纤，然后在第一个ｍｆ　　　　和光检测器之间增加第二个ｍｆ。如果测得的功率值没变，那么增加的ｍｆ就没有影响到衰减测量。４．８严格限制注入装Ｉ在相关规范要求稳态模式注人条件时，应使用严格限制注人装置。对多模光纤建立严格限制注人　　　　条件时．注人装置在ＤＵＴ端产生的输出注人条件如表４所示。表４严格限制注入条件　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　光纤尺寸／１－５０６２．５光斑尺寸／Ｖ．３５４４藕合功率比／／ｄＢ数值孔径８５０　ｎｍ０．１５勺，１９１３．５１７．５１　３００　．ｍ１０．０１４．　５注１：溯合功率比（ＣＰＲ）的偏差土１　ｄＢ，注２光斑尺寸和数值孔径的偏差分别小于１０％和５％．ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１５程序５．　１预处理ＤＵＴ的光学界面上应清洁，　　　　使其没有任何可能影响测试操作和测量结果的碎屑。应遵循制造厂的清洁程序。测试前ＤＵＴ应至少在室温下放置１　　　　　ｈ，注：在整个测试过程中都要确保光配接面不被油或油脂污染，一般认为手指上带有一层油脂。　　　　５．２外观检查　　　　光配接面上应没有可能影响到测试操作的进行和测量结果的缺陷或损伤。建议在测试前按ＧＢ／Ｔ　１８３１１．　１－２００３的规定进行ＤＵＴ光配接面的外观检查５．　３　　ＤＵＴ结构和测试方法ＤＵ丁结构和测试方法见表５，　　　　表５　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ＤＵＴ结构测试方法类型说明ＤＵＴ基准替代光纤到光纤１（器件）　　一仁二卜一截断法ＯＴＤＲ２光纤到光纤　　　　　　　　（接头或现场安装连接器对）—气减１卜插入法（Ａ）截断法或ＯＴＤＲ３光纤到插头—一一一仁习截断法ＯＴＤＲ插头到插头４（器件）　　口－一仁二〕一月插人法（Ｃ）替换法或ＯＴＤＲ插头到插头５（跳线）　　〔二〕－一一户气二习插人法（Ｃ）插人法（Ｂ）或ＯＴＤＲ单插头６（尾纤）〔二卜一一一－－一〔二）插人法（Ｂ）ＯＴＤＲ插座到插座７（器件）　　屯二３插人法（Ｃ）替换法或ＯＴＤＲ８插座到插头（器件）　　口。卜一插入法（Ｃ）替换法或ＯＴＤＲ注１；　Ｃ表示可能有多个端口的光无源器件注２：对于第２类ＤＵＴ，可期望插人法测量和截断法测量是等效的。对于第４，５，６，７类ＤＵＴ，替换法测量的衰减值要比插人法测量的略小。这是因为在替换法中基准功率尸。包括连接到测量系统上去的“替换跳线”　　　　　　的衰减。因此，　　　　　　替换法中所侧尸。的值要比插人法中所测的大。注３：出于侧量考虑，ＯＴＤＲ法相对其他测量方法准确度较低，只能用于合适的测试注４；　Ｏ丁ＤＲ能用在多个端口的器件上但此时应抑制非测量端口在衰减区的反射功率注５：在多模情况下要求严格限制注人条件时，从注人装置上输出到ＤＵＴ上的注人条件应使用ＣＰＲ测试法来测定。　　　　　　５．４采用光功率计的衰减测量截断法、替换法或插人法测量衰减都是使用光功率计。光功率计由光检测器和处理信号的相关电　　　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１子设备组成。用功率计分别测量Ｐ。和Ｐ，并按公式（１）计算衰减：　　　　尸　　　　　　　　　　　　　　、。。…““‘．················。，，（１）八＝一ｉｕｔｇ　｝　　ａｒｓ工ｎ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　式中：　　　　　　　　Ｐ，—　　　　ＤＵＴ接人测量线路时所测得的光功率；Ｐｏ　　　　－ＤＵＴ未接人测量线路时所测得的光功率光纤和光检测器之间应采用合适的连接方式。可以用光纤适配器或者用与连接器相配的转接器。　　　　５．４．１截断法５．４．　１．　１对第１类和第２类ＤＵＴ，ＤＵＴ的一端引出线用ＴＪ接上光源（见图ｌａ））。在ＣＰ处截断光纤测得Ｐｏａ注意ｍｆ所处的位置。另一端接光检测器，测得Ｐ，巨二口－ＨＴｒ．〔二习一一Ｔｒ　　　　ｍｆ月　　　　　Ｐ．图１截断法—第１类、第２类和第３类ＤＵＴ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　５．４．１．２对第３类ＤＵＴ，光纤到插头的ＤＵＴ，在ＤＵＴ上接Ａｒ和一个带尾纤的ＲＰ，构成一个完整的连接器组合。第３类ＤＵＴ的衰减就是带尾纤的完整连接器组合的衰减，按照第１类ＤＵＴ测量。５．４．２替换法替换法中，ＤＵＴ接在测量环路时测得Ｐ，　　　　　，ＤＵＴ由一段替换跳线替代时测得Ｐｏ（见图２）　０５．４．２．１对第４举ＤＵＴ，　３＇Ｆｆ引出线Ｍｉｌ试跳线Ｆ的ＲＰ都要榕Ａｒ（ｎ．图２）ｂ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　卜一０ＡＡＹＲ洲卜－ＮＡ？Ａｔ卜ｋ，ｓ一朴寸琪卜一一仁Ａｒ一　ｆ，ｓ卜Ｅ－ｊ寸仁卯一　　　　　　　　　　　　ｍｆ　　　　　　　Ａｒ　　　　　　　　　　　　　　ｃ｝仁护一寸一　　　　　　Ａｒ　ｍｆｏ５．４．２．２对第７类ＤＵＴ，除了测Ｐ，时不需接Ａ：外，完全按照插头到插头型ＤＵＴ进行测量（见图２）５．４．２．３对第８类ＤＵＴ，除了测Ｐ，时只需接一个基准转换器外，完全按照插头到插头型ＤＵＴ进行测量（见图２）。该情况下，Ａｒ应是离光源最近的一个。５．４．３擂入法（Ａ）ｂ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　图２替换法—第４类ＤＵＴ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　对第２类光纤到光纤型ＤＵＴ（接头或现场安装连接器对），在Ｔｉ和光检测器间接上一段光纤测得　　　　尸。，截断光纤，装上接头或现场安装连接器对，测得尸（见图３），ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１Ｉ　　　ｓ一份－Ｎｍｒｆ一一－一汇习．ｓ、斗寸兰燃一　　　　　　Ｈｍｆ　　　　　　　　　　，　　　　　　　　　ｇｍｆ　　　　　　　｝Ｌ　ＰＤ图３插入法（Ａ）—第２类ＤＵＴ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ｂ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　５．４．４插入法（Ｂ）对第５类和第６类ＤＵＴ，将Ｔｉ引出光纤上的ＲＰ连接到光检测器，　　　　测得Ｐｏ。接上Ａｒ和ＤＵＴ，测得Ｐ，（见图４）ｅ巨二｝一ＴＨ１ＲＰ　　ＰＱ一卜Ｔ１俐　　　　　　　　　－　　　　－ｔ｝ｆ　　　　－－［Ｒ－ＰＰＡ，一一｛Ａ：Ｅｌｂ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　图４插入法（Ｂ）—第５类和第６类ＤＵＴ本测量仅包括ＤＵＴ在测量中靠近光源端的插头。若ＤＵＴ两端都要测量，则应将该跳线换向后重　　　　复进行测量。５．４．４．１对第６类ＤＵＴ，需要在光检测器上配接光纤适配器进行测量。５．４．５插入法（Ｃ）５．４．５．１对第４类插头到插头（器件）型或第５类插头到插头（跳线）型ＤＵＴ，用测试跳线连接光检测器和Ｔｉ引出的端头测得Ｐｏ，再接入ＤＵＴ和一个Ａｒ，测得Ｐ，（见图５）．，ｓ、ＴＨ．ｉ一　　　　　　　　　　ｆ　　　　　　　ＲＰ　　　Ａ　　　　　　　　　ＲＰｍｆ卜ＤＵＴ一一卜」ＷＡｔ一一。５、今甲Ｒｓ　｝　Ｅ　ｊ　　　　　　　　　　　　　ｍｆ　　　　　　　　　　　　Ｐ一Ａ　ｒ｝　　　　　　　　　　　扭卜　　　　　　　　，Ｃ　　　Ｐ．ｒＲＰ－礁一　　　　　　ｍ｝Ｅｆｐ｝ｂ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　图５插入法（Ｃ）—第４类、第５类、第７类和第８类ＤＵＴ５．４．５．２对第７类插座对插座型ＤＵＴ，测量Ｐ时不需接Ａｒｅ５．４．５．３对第８类插座对插头型ＤＵＴ，测量Ｐ时仅需接一个Ａｒ．５．５　　ＯＴＤＲ测量衰减５．５．　１测量说明５．５．　１．１　　ＯＴＤＲ测量后向散射光的辐射强度（由光路产生并由接收仪器采集）。由光无源器件诸如接头、连接器和衰减器等引起的点事件，或者端接无源器件的光纤段的衰减引起的损耗，都可以使用ｓ　　ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１ＯＴＤＲ来测量和评估。５．５．　１．２依据ＤＵＴ结构主要有两种测量方法（见表５）：方法１：一个注人段（见图６），　　　　适用于第１，２，３类ＤＵＴ，方法２：两个注人段（见图７），　　　　适用于第４，５，６，７，８类ＤＵＴ，图６方法１—一个注入段圈７方法２—两个注入段　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　５．５．１．３光纤段Ｌ１和Ｌ２形成ＯＴＤＲ和被测事件之间的隔离，并确保稳定的测量条件。它们的最小长度由ＯＴＤＲ测量衰减的分辨能力决定，通常称为衰减测量盲区（ＤＺ　ａｔｔ）。降低ＯＴＤＲ距离分辨率和测量线路光学损耗的要求限制了注人段的最大长度。５．５．１．４如果ＤＵＴ段长度ＬＸ大于ＯＴＤＲ分辨率（即：ＬＸ＞ＯＴＤＲ　ＤＺ　ａｔｔ），那么ａ事件和ｂ事件的衰减将分别显示。当ＬＸＧＯＴＤＲ的分辨率，ＯＴＤＲ将不能分辨出ａ事件和ｂ事件，ＤＵＴ将被显示为一次衰减事件。５．５．１．５若ＤＵＴ端接连接插头和插座，那么需要接上ＲＰ和插座来形成完整的连接器组合。这些连接器组合视作ＤＵＴ的一部分。５．５．１．６若器件带尾纤，则需要多个连接点，尾纤的长度应保证ＯＴＤＲ分别显示出每个事件的分辨率。５．５．２测量原理５．５．２．１　　ＯＴＤＲ测量的衰减值应以ＯＴＤＲ在ＤＵＴ的两个方向上测量所得的平均值为依据。５．５．２．２　　ＤＵＴ两端光纤的后向散射系数不同会导致ＯＴＤＲ单向测量出现误差。在一个方向上所进行的测量误差为正值而另一个方向上所进行的测量误差为负值。取双向测量所得结果的平均值消除了由于两个光纤后向散射系数差异所带来的测量误差。５．５．３测量方法　　　　—按图６和图７所示配置好设备，将ＯＴＤＲ连接到ａ端。—设定ＯＴＤＲ的测量特性。　　　　　　　　—在ａ－ｂ方向上进行衰减测量并保存所得数据。—按图６或图７所示配置好设备，将ＯＴＤＲ连接到ｂ端。　　　　　　　　—设定同本条中列项２相同的ＯＴＤＲ测量特性。—在ｂ－　　　　ａ方向上进行衰减测量并保存所得数据。５．５．４评估程序５．５．４．１由ＤＵＴ非反射性事件产生的典型后向散射信号的ＯＴＤＲ显示如图８ａ）和图８６）所示。ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１ａ）五点评估ｂ四点评估　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　图８非反射事件　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　５．５．４．２由ＤＵＴ反射性事件产生的典型后向散射信号的ＯＴＤＲ显示如图，ａ）和图９ｂ所示。注：为避免反射峰影响衰减测量，　　　　基准光标和波峰的距离应适当地远。替代方法是采用相关规范规定的合适滤波器来抑制ＤＵＴ的反射。　　　　　　　　ａ）五点评估ｂ反射事件—四点评估　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　图９反射事件　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　５．５．４．３四点评估法设置评估点１，２在ＤＵＴ的前端光纤段上，评估点３，４在ＤＵＴ后端光纤段上。由ＤＵＴ前端光纤　　　　段的最小二乘法拟合曲线上的点２ａ和后端光纤段的最小二乘法拟合曲线上的点３ａ之间的功率差，计ＧＢ／Ｔ　１８３１１．４－２００３／ＩＥＣ　６１３００－３－４：２００１算出衰减Ａ，５．５．４．４五点评估法设置评估点１，２在ＤＵＴ的前端光纤段上，评估点３，４在ＤＵＴ后端光纤段上。设定判定点５的位　　　　置。由ＤＵＴ前端光纤段的最小二乘法拟合曲线和后端光纤段的最小二乘法拟合曲线在点５上的功率差，计算出衰减Ａ。６规定的细节按适用情况，在相关规范中应规定下述细节：—测试方法；—光源特性；—性能要求（容许的衰减）；—功率计特性；—相关的光纤参数；—ＯＴＤＲ特性：波长；　　　　　　　　使用的折射率数值；　　　　　　范围；　　　　　　　　脉宽；　　　　　　　　平均时间；　　　　　　　　长度Ｌ１，　　　　　　Ｌ２，ＬＸ，—相对于本测试程序的差异。