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化学镀铜工艺

2020-01-15 来源:好走旅游网
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・42・ Mar.2002 Plating and Finishing Vol_24 No.2 文章编号:1001—3849(2002)O2 0042—02 化学镀铜工艺 王丽丽编译 210018) (南京得实发展集团,江苏南京摘要:概速了配制化学镀铜液时添加一次化学镀铜所需要的金属离子、络合荆、还原荆和pH调整 舟I,到化学镀铜结束时镀液中的垒属离子,还原剂和pH调整舟I将全部消耗为特征的化学镀铜液, 这样镀液中不会积累还原反应生成物或残留铜粉.而且容易回收络合荆等有效成分,挺高镀层析出 效率和镀层延展性等物理性能。 关键词:化学镀铜;析出效率;歧化反应 中图分类号:TQ153.14 文献标识码:E Process of Copper Electroless Plating Translated and Compiled by WANG Li—li 1前言 剂的回收成本 鉴于上述状况,本文就化学镀铜液中 不会积累还原反应生成物及铜粉,且容易回收络合 剂等成分的一次性化学镀铜液和一次性化学镀铜工 艺加以叙述 工业上使用的化学镀铜含有金属离子,还原剂、 络合剂和pH调整剂等组成。在化学镀铜过程中,随 着化学镀铜反应的进行,必须朴充所消耗的成分。这 种化学镀铜工艺存在的问题有:1)以硫酸铜为铜离 子源,以甲醛为还原剂,以NaOH为pH调整剂时. 随着化学镀铜次数的增加,镀液中积累了大量的硫 酸钠或者蚊酸钠等还原反应生成物,甚至于共析出 于镀层中,影响镀铜层的延展性等物理性能 2)从镀 件基体脱离下来多余的催化剂上会析出镀铜层,其 结果不仅增加了镀液中的铜粉杂质,还会降低镀层 析出效率。3)化学镀铜时,部分Cu 被还原成 Cu zO.随后发生的歧化反应生成的铜(Cu O— 2工艺概述 该化学镀铜工艺的特征在于无须补充化学镀液 中的各种成分,仅仅在配制化学镀液时添加一次化 学镀所需要的铜离子、络合剂 还原剂和pH调整剂 等成分,每一次化学镀结束时,镀液中的铜离子、还 原剂和pH调整剂将会全部消耗掉,通过抑制歧化 反应进行的各组成浓度,来提高镀铜层的析出效率。 镀液中的铜离子在化学镀结束时全部还原析出 在镀件基体表面上,这样既可以获得足够的镀铜层 厚度,又可以挪制因铜离子过剩引起的歧化反应,防 止镀液中铜粉的析出。铜离子浓度为0.06~0.1 2 ool/L。如果铜离子浓度低于0.06 tool/L.t则难以获 Cu 0+Cu )以铜粉状态无规则地分散于化学镀铜 液中。4)如果废液中残留较多的铜离子,在回收时必 须调整pH来还原和除去铜离子,因此会提高络合 收藕日期:2001—08—06 作者筒介:王丽丽(1944一),女,江苏南京人、南京得实发展集团工程师 维普资讯 http://www.cqvip.com

2002年3月 电镀与精饰 第24卷第2期(总143期) ・43・ 得充分的镀铜层厚度;如果铜离子浓度高于0.12 mol/L,就会析出粗糙的镀铜层。 化学镀液的还原剂为甲醛,在化学镀结束时几 1)脱脂浸渍于4O~50"C的硅酸盐溶液中1O 浸渍于30~40C的氟硼酸溶液 min,然后取出水洗。 2)化学蚀刻3)敏化10min。 乎全部消耗掉,在理论上还原剂浓度应该是铜离子 浓度的1.2~2.0倍。还原剂的实际消耗量应该包括 还原剂的蒸发量,还原剂的分解量,引起充分还原反 应的量和防止歧化反应的过剩量。如果还原剂浓度 过低,就难以引起充分的还原反应,难以确保镀铜层 厚度;如果还原剂浓度过高,则会促进歧化反应的发 生而析出较多的铜粉。 化学镀铜液中的络合剂为EDTA。在化学镀结 束时,镀液中的EDTA没有全部消耗而可以回收利 用,有助于降低成本。在理论上镀液中的EDTA浓 度宜为络合铜离子所必须的理论浓度的0.6~0.9 倍。如果EDTA浓度低于络合铜离子所必须的理论 浓度的0.6倍,那么就不能充分地络合镀液中的铜 离子而可能析出铜粉;如果EDAT浓度高于理论浓 度的0.9倍,那么就会抑制铜离子的还原.难以确保 镀铜层厚度。 镀液温度为40~6012.晟好为45~j5 C。在这 一中10 min,然后取出水洗。 浸渍于20~30C的氯化亚锡溶液中 浸溃于2O~30 C的氯化钯溶液中lO 4)活化min,然后取出水洗。 5)化学镀铜 活化处理过的陶瓷基体浸溃于由 CuSO.5H O—EDTA—HcH0一NaOH等组成的总液 量为3.2 L的化学镀铜溶液中,一边鼓人空气,一边 进行化学镀铜。然后取出用去离子水水洗15 min, 再在7O~80C的热风中干燥20 min。至此可 获得 陶瓷基体表面上镀覆化学镀铜层电极的电介质共振 器。 化学镀镀液配方和工艺条件如下; CuSOd・5H2O EDTA HCH0(37 )0 t 0.10 mol/L 0.08mo!/L 0.24 mol/L 50℃ 60 min 温度范围内.可以获得较好的镀层析出效率。镀层 析出效率一[(铜添加量化学镀结束时镀液中的残 铜量)/铜掭加量]×1∞。如果镀液温度低于40 C. 空气供给量 镀铜层厚度 7.5 L/rain 4.0 m 还原反应缓慢,镀层析出效率低,难以确保镀铜层厚 度;如果镀液温度高于60<C.则会促进还原反应和 歧化反应,镀液中析出铜粉增多,亦会降低镀层析出 效率。 化学镀过程中最好鼓人空气。如果镀液中的铜 离子一旦被还原成氧化亚铜,鼓人空气中的0 就 会把氧化亚铜氧化成铜离子,从而抑制了发生歧化 反应所形成的铜粉。鼓人的空气量约为每升镀液 37.5~131 L/h。如果每升镀液的空气供给量低于 37.5 L/h,就不能供给使生成的氧化亚铜氧化成铜 离子所必须的o。.因而难以抑制歧化反应而生成铜 粉;如果每升镀液的空气供给量高于131 L,h.就会 使析出的镀铜层氧化而变为黑色,并使析出的镀铜 4结论 配制化学镀铜液时,添加一次性化学镀铜所全 部消耗的铜离子和还原剂,在一定的络台剂浓度范 围、温度范围和空气供给量范围等条件下进行一次 性化学镀铜的工艺特点如下: 1)镀液中不会积累还原反应产生的硫酸钠和蚁 酸钠等还原反应生成物。 2)可以有效地抑制歧化反应的进行.因此镀液 中不会积累因歧化反应而产生的铜粉。 3)因为镀液中的杂质极少.有利于提高镀铜层 的延展性和外观品质.镀铜层析出效率高。 4)镀液中残留铜离子极少,提高子EDTA络合 层再溶解,降低镀铜层厚度。 剂的回收效率,经济效益良好。 3应用实例 制备一种同轴形状的电介质共振器用的T Ba—Pb—Nd陶瓷基体,把若干陶瓷基体置于滚筒内 按照下列工艺程序进行镀前处理和化学镀。 参考文献 [1]古林斡弥,佐佐日清美.化学镀液和工艺【P].日本专 利:特开2000 212761,200 ̄08—02. 

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