专利名称：一种光学轮廓测量装置专利类型：实用新型专利
发明人：白艳茹,刘尚春,任威平,田思洋,王磊申请号：CN201520747724.2申请日：20150924公开号：CN205014961U公开日：20160203
摘要：本实用新型提供一种光学轮廓测量装置，能够排除被测物体颜色的干扰性，提高光学轮廓测量的准确性。所述装置包括：在光路中设有一块密布微小通光孔隙的遮光板及设在所述遮光板一侧的光学成像器件；其中，在测量过程中，被测物体被测面贴近所述遮光板的另一侧；所述光路的照射方向包括：光从所述被测物体一侧通过所述遮光板上的微小孔隙射向光学成像器件一侧；所述光学成像器件，用于当所述遮光板被所述被测物体被测面遮挡时，拍摄所述遮光板图像，并根据所述遮光板图像的阴暗分布，测得所述被测物体被测面的轮廓。本实用新型涉及机器视觉和光学测量技术领域。
申请人：北京科技大学
地址：100083 北京市海淀区学院路30号
国籍：CN
代理机构：北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人：张仲波
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