专利名称：一种TO器件老化测试板专利类型：实用新型专利发明人：刘建良,邱名武,韦国辉申请号：CN202122382121.5申请日：20210929公开号：CN216485129U公开日：20220510
摘要：本实用新型一种TO器件老化测试板，热沉通过若干个支点悬空地架设在承载板上，在热沉中部设有插槽，一感温热电偶插置在该插槽内；采用上述方案后，本实用新型热沉和芯片的温度基本上保持一致，感温热电偶插置在热沉内监测热沉的温度，这样可准确控制芯片的老化温度。
申请人：厦门三优光电股份有限公司
地址：361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505室
国籍：CN
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