专利名称：单张薄膜的缺陷检查装置专利类型：实用新型专利发明人：梅惠杰,黄健
申请号：CN201821273833.5申请日：20180808公开号：CN208953435U公开日：20190607
摘要：本实用新型涉及单张薄膜的缺陷检查装置具备：输送装置，其位于单张薄膜的输送方向上游，输送单张薄膜；接收部，其包括至少一对被上下配置的接收辊，并位于输送方向下游，接收从输送装置送出的单张薄膜；以及检查部，其包括光源和摄像机，光源和摄像机被上下地配置在输送装置与接收辊之间，并且摄像机接收来自光源的、透过单张薄膜的光，接收部的位于输送方向的上游侧的端部具有间隙，将间隙的间距设为第一间距，第一间距为单张薄膜的膜厚以上且摄像机的景深以下。根据本实用新型，能够使单张薄膜更容易地被接收部接收，避免单张薄膜在输送装置与接收部之间发生变形，使单张薄膜在平整的状态下进行检查、保证摄像机的焦点对准单张薄膜的每个部分。
申请人：住化电子材料科技(无锡)有限公司
地址：214028 江苏省无锡市新区新梅路61号
国籍：CN
代理机构：上海华诚知识产权代理有限公司
代理人：刘煜
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