专利名称：嵌入式系统存储器的测试结构专利类型：实用新型专利
发明人：周美娣,何文涛,殷明,黄璐,冯华星申请号：CN201320761742.7申请日：20131127公开号：CN203573309U公开日：20140430
摘要：本实用新型公开了一种嵌入式系统存储器的测试结构，内嵌于SoC芯片，包括CPU、控制器、系统总线、SPI接口和多路选择器。其中，CPU通过系统总线与SoC芯片中的存储器阵列相连；控制器通过SPI接口与外部测试机相连；多路选择器的一个输入端与系统总线相连，另一个输入端连接控制器，输出端连接到零位SRAM；SPI接口是SPI Slave外部接口，其和外部测试机之间具有4个接线。本实用新型通过使用嵌入式的CPU，实现了对SoC芯片中的存储器阵列的基于软件的测试；而SPI接口实现简单，接线少，通信速率高，由此节省了测试时间。
申请人：中国科学院嘉兴微电子与系统工程中心
地址：314006 浙江省嘉兴市亚太路778号内2号楼(嘉兴科技城)
国籍：CN
代理机构：上海旭诚知识产权代理有限公司
代理人：郑立
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