专利名称:存储器测试方法及装置专利类型:发明专利发明人:钱亮
申请号:CN201410078928.1申请日:20140305公开号:CN103824600A公开日:20140528
摘要:一种存储器测试方法及装置,所述方法包括:以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试,直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区;在所述对各个字节进行测试后,分别判断所述各个字节测试是否通过;若所述存储器内某一字节测试通过,则下一步对该字节的后一个字节进行测试;若所述存储器内某一字节测试未通过,则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试;对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复。本发明在以扇区为单位进行修复的情况下,当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时,不再对该扇区内剩余的字节进行测试,测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节,从而避免了不必要的冗余测试,提高了测试效率。
申请人:上海华虹宏力半导体制造有限公司
地址:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
国籍:CN
代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司
代理人:骆苏华
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