专利名称：基于fpga的芯片测试系统及方法专利类型：发明专利发明人：赵毅辰,高胜
申请号：CN201910448179.X申请日：20190527公开号：CN110058147A公开日：20190726
摘要：本发明公开了基于fpga的芯片测试系统及方法，涉及芯片测试技术领域。一种基于fpga的芯片测试系统，包括PC端和fpga,PC端用以施加测试激励指令,并将测试激励指令发送至fpga；所述fpga用以接收测试激励指令并解析后发送至芯片,所述fpga能够判断测试类型是IO测试还是寄存器测试,所述IO测试包括对芯片测试模式的配置和芯片IO上下拉的操作,所述寄存器测试包括对芯片寄存器的读写操作。本发明支持IO及寄存器读写操作两种测试类型，用户可以在线调试测试代码，编译时间短，可以灵活满足各种芯片测试需求。
申请人：眸芯科技(上海)有限公司
地址：201210 上海市浦东新区自由贸易试验区纳贤路800号1幢507室
国籍：CN
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容