专利名称：一种电容器薄膜膜厚检测装置专利类型：发明专利发明人：高文明
申请号：CN201610855467.3申请日：20160928公开号：CN106500609A公开日：20170315
摘要：本发明涉及一种电容器薄膜膜厚检测装置，属于电容器检测装置技术领域，包括检测平台，所述检测平台上铺设有金属化薄膜，所述检测平台上位于金属化薄膜两侧分别设置有对称的激光发射装置和激光接收装置，所述检测平台一侧的激光发射装置向金属化薄膜发射激光后反射到激光接收装置上。该技术方案针对金属化薄膜表面光洁的特点，通过设置在金属化薄膜两侧的激光发射装置和激光接收装置对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置将在同一位置接收到稳定的激光信号；当膜厚异常时，则激光接收装置的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量，具有有益的技术效果和显著的实用价值。
申请人：铜陵市铜创电子科技有限公司
地址：244000 安徽省铜陵市铜官区纬一路东段1111号(1#厂房)
国籍：CN
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