发布网友 发布时间:2022-04-22 19:34
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热心网友 时间:2023-11-17 04:31
背散射电子:入射电子被固体样品原子核反弹回来的一部分入射电子。来自样品表层几百纳米的深度范围,它的产额随着原子序数的增大而增大,因此既可以做成分分析,也可以做形貌分析,但分辨率较低,约50-200nm。
二次电子:入射电子束将原子核外电子撞击,使其脱离轨道并离开样品表面。一般在表层5-10nm激发出来,因此很适合显示样品表面形貌,做断口观察。
3.吸收电子:入射电子进入试样,多次弹射后能量损失被样品吸收。吸收电子也可以用作定性的微区成分分析,是因为 吸收电子=入射电子-背散射电子-二次电子,即原子序数大的吸收电子少。
4.透射电子:若样品很薄,部分电子穿过试样成为透射电子。因此,对于薄样,可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
5:特征X射线:样品内层电子被入射电子激发后,外层电子会向内层跃迁以填补空位,这时就会释放具有特征能量的X射线。当用X射线探测器探测到微区的特征波长,就可以以此来进行元素判定。
6:俄歇电子:样品内层电子被入射电子激发后,外层电子会向内层跃迁以填补空位,这时如果不发出X射线,就会把空位层的另一电子发射出去,这个被电离的电子就叫俄歇电子,仅适用于做表层1nm左右的成分分析。
更多原理,可以参考《材料分析测试技术》——哈尔滨工业大学出版社。
热心网友 时间:2023-11-17 04:32
1)背散射电子:能量高;来自样品表面几百nm深度范围;其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
2)二次电子:能量较低;来自表层5—10nm深度范围;对样品表面化状态十分敏感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。
3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。 吸收电子能产生原子序数衬度,即可用来进行定性的微区成分分析.
4)透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。
5)特征X射线: 用特征值进行成分分析,来自样品较深的区域
6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低;来自样品表面1—2nm范围。它适合做表面分析。