无损检测 超声探伤，B、C、D型扫描，相控阵线性扫描和扇形扫描等等，谁能帮帮给个图示解释下！
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发布时间：2022-04-22 20:29
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热心网友
时间：2023-10-27 20:38
扇形扫查通过探头的波束偏转来控制。晶片激发的时间不同，从而产生不同角度的波束偏转
线性扫查是不同的时间激发不同组的晶片，从而形成电子扫查。
